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產(chǎn)品名稱(chēng):

外延片測溫儀

描述:Sekidenko OR400M 外延片測溫儀可選波長(cháng)3.3或5.2μm,具有RS232數字輸出和模擬輸出接口,適用于薄膜太陽(yáng)能,玻璃,半導體工藝溫度的精確測量。
訪(fǎng)問(wèn)次數: 1954
更新時(shí)間: 2024-04-23

產(chǎn)品介紹

Sekidenko OR400M 外延片測溫儀主要特點(diǎn)

  • 自動(dòng)環(huán)境溫度校準

  • 結構緊湊,易于集成

  • 高速固態(tài)光電探測器

  • 薄膜光伏電池生產(chǎn)過(guò)程的實(shí)時(shí)測量

  • 可配置的濾光片,探測器和光學(xué)傳輸系統

詳細說(shuō)明

OR400M 單通道中波光學(xué)高溫計用于需要更長(cháng)波長(cháng)的半導體應用,例如測量真空室內的石英。高溫計安裝在腔室外通過(guò)視窗進(jìn)行非接觸式測量。

由于玻璃具有*的透射特性,因此測量玻璃溫度必須選擇更長(cháng)的波長(cháng)(通常在5 µm以上)。這些波長(cháng)使高溫計可以“看見(jiàn)”玻璃基板,而不是透過(guò)玻璃測量對側的物體或薄膜的輻射。OR400M 可在5.2 µm工作波段下對基于玻璃的應用(包括高雜散光背景存在情況)進(jìn)行的精確測量

OR400M光學(xué)高溫計可選用3.3 µm的近紅外波段和5.2 µm的中紅外波段。該設備的波長(cháng)范圍非常適合光伏(PV)太陽(yáng)能應用中疊層PV電池組中的特定層溫度的測量。PV電池層包括TCO(透明導電氧化物)層,鉬背面接觸層以及CIGS(硒化銅銦鎵)或CdTe(碲化鎘)沉積層。 為了選擇正確的波長(cháng)來(lái)測量每層的溫度,必須考慮以下幾點(diǎn):

  • 層的透射率屬性

  • 層的厚度

  • 層的發(fā)射率

  • 背景雜散光對測試的影響

 

技術(shù)參數

通用參數

配置

單通道溫度測量

溫度范圍

50 至 1300°C

波長(cháng)3.3 和 5.2 µm ,可訂制
讀取速率高達 250 Hz
測溫精度±3°C

重復精度

±0.1°C

分辨率0.01°C
接口
屏幕顯示無(wú),可通過(guò)RS232設置
數據 I/O高達115 kB的 RS-232 輸出
模擬輸出0 至 10 V 或 4 - 20 mA
電參數

輸入電壓

AC: 90 to 263 VAC, 47 to 63 Hz

DC: +24 VDC

環(huán)境參數
使用環(huán)境15 to 40°C (64 to 104°F), 非凝露
物理特性
物理尺寸

32 mm (H) x 57 mm (W) x 235 mm (D)

1.26" (H) x 2.30" (W) x 9.26" (D)

重量0.39 kg (0.87 lb)
安裝框架安裝,安裝塊上有安裝孔;有關(guān)更多信息,請參考手冊。
電源線(xiàn)電流100 VAC時(shí),小于0.7A

Sekidenko OR400M 外延片測溫儀

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